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  光切法顯微鏡 9J(JBQ)

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      本儀器是以光切法測量另件加工表面的微觀不平度。其能判斷別國家標準GB 1031-68所規定▽3-9級表面光潔度。

      對于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來進行測量。

      光切法特點是在不破壞表面的狀況下進行的。是一種間接測量方法。即要經過計算后才能確定紋痕的不平度。

       

       

      測量范圍不平度平均高度值

      0.81.6微米

       9J(JBQ)
      產地China
       
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